UV-A型單通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
UV-A型單通道紫外輻照計(jì)產(chǎn)品簡介：
UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，
探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
UV-A型單通道紫外輻照計(jì)產(chǎn)品特點(diǎn)：
光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正;
數(shù)字液晶顯示，帶背光;
手動(dòng)/自動(dòng)量程切換;
數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電);
低電量提醒;
自動(dòng)延時(shí)關(guān)機(jī);
有數(shù)字保持;
輕觸按鍵操作，蜂鳴提示。
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UV-A型單通道紫外輻照計(jì)技術(shù)參數(shù)：
項(xiàng)目 | 參數(shù) | 備注 |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 用戶二選一 |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 | |
紫外帶外區(qū)雜光 | 0.02% | |
相對(duì)示值誤差 | ±8％（相對(duì)于NIM標(biāo)準(zhǔn)） | |
角度響應(yīng)特性 | ±5% （α≤10°） | |
線性誤差 | ±1% | |
換檔誤差 | ±1% | |
短期不穩(wěn)定性 | ±1%（開機(jī)30min后） | |
疲勞特性 | 衰減量<2% | |
零值誤差 | 滿量程的±1% | |
響應(yīng)時(shí)間 | <1秒 | |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH | |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg | |
電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） | |
整機(jī)功耗 | ＜0.1VA |
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