X-RAY XDVM-µ微觀結構鍍層測量系統
新型號的FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-µ是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統。
它的出現解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰。這種**技術的，目前正在申請磚利的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產生很大的輻射強度，這就可以在小到幾十微米的結構上進行測量。
在經濟上遠遠優于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設計使得能夠在非常精細的結構上進行厚度測量和成分分析。XDVM-µ可以勝任測量傳統的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結構。
具有強大功能的X-射線XDVM-µ帶WinFTM® V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。
HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統有超過17年的經驗。通過對所有相關過程包括X射線熒光測量法的**處理和使用了*新的軟件和硬件技術，FISCHER公司的X射線儀器具有其*的特點。
有一無二的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標準片校準并保證一定測量精度的情況下測量復雜的鍍層系統，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件）
典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
*多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。
FISCHERSCOPE® | |
測量方向 | 從上往下 |
X-射線管型號 | MW |
可調節的高壓 | |
開槽的測量箱體 | |
基本Ni濾波器 | |
接收器(Co) | |
數準器數目 | 1 |
z-軸 | 可編程的 |
測量臺類型 | 可編程的XY工作臺 |
測試點的放大倍率 | 30 - 1108 x |
DCM方法 | |
WinFTM® 版本 | V.6 標準 |
操作系統： |
涂裝 相關儀器：涂層測厚儀，漆膜硬度測試儀，電解膜厚儀，黏度計/粘度計，X射線測厚儀，附著力測試儀，微型光澤儀，分光色差儀，霧影儀，反射率測定儀，光譜儀，涂膜干燥時間記錄儀，, 標準光源箱
