產品介紹：
1.采用美國原裝電致冷高性能Si-PIN探測器，分辨率高，探測范圍寬，涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金（含貴金屬）及各種常規材料分析的基本要求。
2.配置的DPP數字多道信號集成處理器，比普通模擬多道信號處理器性能更佳，尤其在高計數率時有更好的分辨率（如Hg和CI等），高達80MHz的數據傳輸速度使分析時間更短，測量重復性和長期穩定性更好。
3.內置高清攝像系統，清晰觀察樣品，準確定位樣品測試區域。
4.配套的fp測量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測結果更加準確，更加接近真值水平。品 ※ 同時滿足ROHS、鹵素、鍍層、合金等材料分析 ※ 沿用美國成熟的X熒光技術 ※ 集成FP法、Alpha系數法、經驗系數法 ※ 可生成各種人性化的檢測報告 ※ 軟硬結合的防輻射設計 ※ 操作簡便、一鍵式操作設計 ※ 智能軟件自動設定參數和濾光片 ※ 快速無損分析樣品 ※ 多種語言的操作系統 ※ 超溫保護、超載保護 ※ 無需耗材
1、探測器：美國Amptek Si-PIN探測器，高速脈沖高級分析系統；
2、高壓電源：美國Spellman 50w（50kv/MA）；
3、X射線管：50w側窗鈹窗型X射線管；
4、能量分辨率：149ev；
5、元素分析范圍：硫（S）-鈾（U）；
6、測量時間：60-300S；
7、測量含量范圍：1ppm-99.9%；
8、交流220v供電設備：1KVA交流凈化穩壓電源；
9、工作溫度：10-30°C；
10、測量條件：大氣環境；
