貴金屬檢測儀XF-A6
產品介紹
在貴金屬檢測領域，傳統的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測，具有消耗性和危險性，且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟，可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數，是我國普及型貴金屬檢測技術的發展方向。西凡科技制造的金銀檢測儀引用的就是X射線熒光光譜法這種*的貴金屬檢測技術。
貴金屬檢測儀XF-AX是西凡科技根據多年的貴金屬檢測技術和經驗，自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一，是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口SDD探測器，采用航空設計，大氣，擁有十多項研發，性能突出，體積小重量輕，符合新國標GB18043-2013，可對金銀首飾進行準確檢測。
產品優勢
性價比高
可以快速準確檢測各種貴金屬，應用廣泛！
無損檢測
不會對珠寶首飾等被測樣品造成任何損壞。
操作簡單智能
一鍵測試功能，自動化檢測無需配備專業人員
檢測快速。
3秒定性，7秒可得出直觀結果。
便于攜帶
一體化設計，占用空間小，便于攜帶與管理。
安全耐用
具備反輻射功能，整機壽命超過10年
精準度高
可靠的檢測數據。
操作安全
加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全。
XF-A6技術參數
設備原理：X熒光能量色散
精確度: ±0.05%
整機分辨率：145±5eV
探測器： 進口Si-PIN探測器
適用溫度： -11~46℃
內置電容觸摸LED屏：是（9.7吋OLED）
標簽打印機：支持
儀器尺寸：:312x480x310mm
測試室尺寸：300x240x110mm
天平/密度儀：支持
是否電腦：電腦一體機
電壓： 100V～240V
額定功率：160W
重量：22公斤
標準配置
主動式射線保護
全局故障診斷
擴展線材及輔助支架
全局故障診斷
擴展線材及輔助支架
高壓過壓保護
升降壓預啟動
升降壓預啟動
光管過執保護
擴展屏
擴展屏
應用領域：
- •珠寶首飾店
- •典當行
- •鑒定
- •首飾工廠
- •珠寶學校
- •專業實驗室
- •質檢機構
- •金屬工藝品
- •貴金屬冶煉
- •貴金屬提純
- •貴金屬回收
- •地礦勘探
- •稀貴金屬
- •合金材料
- •黃金加工
產品榮譽證書
