貴金屬檢測儀XF-S7
前言：
1、貴金屬的稀缺與寶貴，讓灰吹法等傳統的破壞性檢測方法越來越不適用，市場上迫切需要一種快速、準確、無損的檢測方法，而X射線熒光光譜法無非是很好的貴金屬無損檢測方法。
2、社會上金銀首飾摻假現象時有發生，不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失，而西凡科技的金銀檢測儀可以讓金銀首飾的真實含量準確呈現，在這種公平公開的市場環境下，自然可以規避交易風險。
3、金銀首飾的摻假現象，讓顧客對商家產生了不信任，而商家借助金銀檢測儀可以將誠信經營的形象展現給顧客。
4、客戶的信任能給珠寶首飾店帶來更多的營業收入，從而提升了市場競爭力。當前國內外許多珠寶店都配備有金銀檢測儀，這也是他們在行業里能保持強大競爭力的原因之一。
面對這些紛繁復雜的商業和社會環境，你有過困惑嗎？怎么去改變這些現狀呢？怎么讓你的企業擺脫困境，贏得顧客的信任，重新煥發生機?
該款貴金屬檢測儀XF-S7是西凡西凡儀器2020全新款，一款可以測戒指內圈成分的光譜測金儀器，自主研發生產的X射線熒光光譜檢測儀之一，是一款配置的全元素檢測儀。它配備了進口Fast SDD探測器擁有十多項研發，性能突出，采用進口Fast SDD探測器，搭載ARM Cortex-A53四核處理器，Linux操作系統
產品細節展示
貴金屬檢測儀XF-S7的外觀
貴金屬檢測儀EXF9900軟件界面
產品優勢
性價比高
可以快速準確檢測各種貴金屬，應用廣泛！
無損檢測
不會對珠寶首飾等被測樣品造成任何損壞。
操作簡單智能
一鍵測試功能，自動化檢測無需配備專業人員
檢測快速。
秒定性，7秒可得出直觀結果。
便于攜帶
一體化設計，占用空間小，便于攜帶與管理。
安全耐用
具備反輻射功能，整機壽命超過10年
精準度高
可靠的檢測數據。
操作安全
加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全。
測金儀是如何檢測金銀純度的
貴金屬檢測儀XF-S7的正面結構展示
選擇西凡貴金屬檢測儀XF-S7的核心特征及優勢
可測內圈
1、一款可檢測戒指內圈成分的光譜測金儀；
測試補償
2、通過調節攝像頭焦距，準確明晰樣品的測試部位，并通過距離補償測試結果；
準確定位
3、采用松下伺服電機，控制0.3mm準直器準確定位；
微距光管
4、采用薄Be窗微距點光管，保證測試的準確穩定性；
*降噪
5、采用日本*風扇及熱源分析系統，高度降噪并大大提升儀器的長期穩定性，延長使用壽命；
四核處理器+Linux系統
6、自主研發的工控主板，搭載ARM Cortex-A53四核處理器，采用linux操作系統，帶來更好的系統穩定性，提升自定義空間和定制功能；
Fast SDD探測器
7、采用定制進口高分辨率Fast SDD探測器，有效提升檢測精準度和儀器的測試穩定性；
技術參數
核心特征：可測戒指內圈+高精確度±0.01%
精確度: ±0.01%
整機分辨率：130±5eV
探測器： 進口Fast SDD探測器
適用溫度： -11~46℃
規格尺寸：467×370×336(mm)
樣品腔：310×248×124(mm)
主體結構：高強度金屬支架+鋁合金外殼
電腦操作系統：ARM 四核+Linux
熱敏打印機：支持
天平/密度儀：支持
電池支持：否
樣品可視：支持（鉛玻璃）
電壓： 100V～240V
額定功率：150W
重量：40公斤
標準配置
全局故障診斷
擴展線材及輔助支架
升降壓預啟動
擴展屏
應用領域：
- •珠寶首飾店
- •典當行
- •鑒定
- •首飾工廠
- •珠寶學校
- •專業實驗室
- •質檢機構
- •金屬工藝品
- •貴金屬冶煉
- •貴金屬提純
- •貴金屬回收
- •地礦勘探
- •稀貴金屬
- •合金材料
- •黃金加工
產品榮譽證書
