日本SANKO接觸式膜厚計SWT-7000 Ⅲ
日本SANKO接觸式膜厚計SWT-7000 Ⅲ
SWT-7000+FN325探頭：可進行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。
新的兩用探測頭FN-325可用于SWT系列的產品（7000、8000、9000）可測量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。
SWT-7000Ⅲ系列機型
機型 | SWT-7000Ⅲ | SWT-7100Ⅲ | SWT-7200Ⅲ | |
測量范圍 | 連接的探測頭不同測量范圍也不同。 | |||
顯示方式 | 液晶顯示LCD（數據·提示信息）、背光燈 | |||
檢量線校正 | 2點校正方式（零校正、標準校正） | |||
檢量線存儲 | 鐵、非鐵各1根 | 10根 | ||
測量值存儲 | — | 20,000點 | ||
數據傳送 | — | USB | USB | |
統計功能 | — | — | 內藏 | |
附加功能 | ●背光燈 ●測量模式的切換（普通／連續） ●檢量線、校正值的刪除 ●自動關機功能（約3分以上不操作時，機器會自動關機） ●分辨率的切換 ●上下限值的設定（SWT-7200Ⅲ） | |||
電源 | 單3電池 ×2 | 單3電池 ×2 電源線 | ||
使用溫度 | 0～40C°（不結露） | |||
機體尺寸·重量 | 72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g | |||
附屬品 | 干電池、收納袋子 | 干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件（CD） | ||
追加產品 | 鐵材金屬用探測頭（Fe）、非鐵材金屬用探測頭（NFe） 鐵·非鐵材用探測頭（FN-325）
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SWT系列探頭可互換。
◆ 兩用型 : FN-325
◆ 鐵材用 : Fe 系列
◆ 非鐵材 : NFe 系列
探測頭型號 | FN-325 |
測量方式 | 電磁式·渦電流式兩用（鐵·非鐵底材自動識別） |
測量范圍 | 鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm |
表示分辨率 | 1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通） 0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通） 0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通） 0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材） 0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材） |
測量精度 （平滑表面） | 0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通） 或者是指示值的±2%以內 101μm～3.00mm:±2%以內（鐵底材） 101μm～2.50mm:±2%以內（非鐵底材） |
探測部 | 1點定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g |
選擇產品 | V形探測頭套有3種（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） |
附屬品 | 標準校正板、試驗用零校正板、（鐵用·非鐵用） |
測量對象 | 鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、 電鍍（電解鎳除外）等 非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等 一般較普遍的測量物用 |
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（1）（Fe）
型號 | Fe-2.5/2.5L | Fe-2.5LwA | Fe-0.6Pem |
測量方式 | 電磁感應式 | ||
測量范圍 | 0～2.50mm | 0～600μm | |
表示分解率 | 1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.50mm | 1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
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測量精度 （平滑面） | 0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm～2.50mm：±2% | 0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的±2%以內 101μm～600μm：±2% | |
探測部 | 1點定壓接觸式 V形口套頭 2.5：φ13×48mm 2.5L:18×23×67mm | 1點定壓接觸式 測量部：約20×57mm 全長：約550～ 1.550mm （伸縮式） | 1點定壓接觸式 Φ5.6×94mm |
選擇產品 | V形套頭/— （φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用） | — | — |
附屬品 | 標準校正片 試驗用零校正板 （鐵用） | 標準校正片 試驗用零校正板（鐵用） 收納袋子 | 標準校正片 試驗用零校正板 （鐵用） |
測量對象 | 鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等 | 鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個的皮膜、襯層等等手不能進去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。 | 鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。 |
SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測頭（2）（Fe）
型號 | Fe-10 | Fe-20 |
測量方式 | 電磁感應式 | |
測量范圍 | 0～10mm | 0～20mm |
表示分解率 |
1μm：0～999μm 0.01mm:1～10mm
| 1μm：0～999μm 0.01mm:1～5mm 0.1mm:5～20mm |
測量精度 （平滑面） | 0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%） 3.01mm：顯示值的±3% | |
探測部 | 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ18×47mm | 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×59mm |
選擇產品 | — | — |
附屬品 | 標準校正片、試驗用零校正板（鐵用） | |
測量對象 | 鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用 | 鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用 |
探測頭要根據需要購買。
SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測頭（NFe）
型號 | NFe-2.0/NFe-2.0L | NFe-06 | NFe-8 |
測量方式 | 渦電流式 | ||
測量范圍 | 0～2.00mm | 0～600μm | 0～8mm |
表示分解率 | 1μm：0～999μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm 0.01mm:1.00～2.00mm | 1μm：0～600μm 切換 0.1μm：0～400μm 0.5μm：400～500μm
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1μm：0～999μm 0.01mm：1～8mm |
測量精度 （平滑表面） | 0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm～2.00mm： ±2%以內 | 0～100μm:±1μm 又或者時顯示值的 ±2%以內 101μm～600μm： ±2%以內 | 0～100μm:±1μm ±（±1μm＋顯示值的±2%） 101μm～8mm： ±2%以內 |
探測部 | 1點定壓接觸式 V形口套頭 2.0：φ13×47mm 2.0L：18×23×67mm | 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ11×48mm
| 1點定壓接觸式 V形口套頭 φ35×61mm
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選擇產品 | V形套頭/- | － | － |
附屬品 | 標準校正片、試驗用零校正板（非鐵用） | ||
測量對象 | 鋁、銅等非磁性金屬底材 上的絕緣性皮膜等一般普 通測量物用。 | 鋁、銅等非磁性金屬底 材上的絕緣性皮膜等 細小的圓棒、細管、小 物件等的高安定性用。 | 鋁、銅等非磁性金屬 底材上的絕緣性皮膜等 比較厚的測量物用。 |
探測頭要根據需要購買。
