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    • 日本Otsuka界達電位ELSZ-2000 激光粒度儀

    ELSZ-2000 日本Otsuka界達電位ELSZ-2000 激光粒度儀

    參考價
    面議
    具體成交價以合同協議為準
    • 型號ELSZ-2000
    • 品牌
    • 所在地
    • 更新時間2025-07-08
    • 廠商性質經銷商
    • 所在地區深圳市
    • 實名認證已認證
    • 產品數量96
    • 人氣值1827
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    深圳華普通用科技有限公司(簡稱華普通用)是一家專業從事儀器儀表代理的綜合性服務公司。公司前身于2004年成立。目前已經成為國內較大的儀器經銷商,系統集成商和綜合服務商之一。

     

       公司業務分為電子測試儀器部,化學分析儀器部,材料分析儀器部,電磁兼容測試儀器部以及芯片燒錄設備部。華普通用與美國力科(LECORY)、美國吉時利(KEITHLEY)、美國科學儀器公司STI、美國SerialTek、德國斯派克(SPECTRO)、美國SANBlaze、瑞士特測(TESEQ) 、中國臺灣崇貿(SystemGeneral) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDOTelecom SL、日本TAKAYA等數十家儀器制造商在中國區有著廣泛的合作。 *致力于為電子信息、教育科研、電力石化、醫藥衛生、金屬塑膠等領域提供分析測試儀器和系統集成。2013年營業額超過1億元人民幣。

     

        公司總部位于深圳市南山區科技園,在北京、上海、香港、蘇州、廈門等地設有分支機構,員工人數50多人。通過與分銷伙伴的合作,擁有覆蓋全國的服務網絡。華普通用擁有一批技術型的銷售工程師和專業的售后隊伍,在多年的發展中積累了大量的案例和經驗,能夠給客戶提供迅速、完善、專業的服務。長風破浪會有時,直掛云帆濟滄海,華普通用將通過不懈的努力,繼續專注于為客戶提供分析測試解決方案,和客戶一起成功!

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    此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測量范圍(0 6nm~10μm),濃度范圍(0 00001%~40%)。實測電氣滲透流
    日本Otsuka界達電位ELSZ-2000 激光粒度儀 產品詳情

    產品信息

    特點

    使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時間
    通過測量自動溫度梯度空間,可分析出変性?相轉移溫度
    可測量0~90℃大范圍內的溫度
    追加了大范圍的分子量測量及解析功能
    懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量
    實測cell內的電氣滲透流,解析plot,提供高精度的ZETA 電位測量結果
    高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
    小面積樣品的平板ZETA電位測量

    用途

    適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫學領域中,除了微粒子外,膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。
    新功能性材料領域

    燃料電池相關(碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬)
    生物納米相關(納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子)、納米氣泡等

    陶瓷?色材工業領域

    陶瓷(二氧化硅?氧化鋁?氧化鈦等)
    無極膠體溶液的表面改質?分散?凝集控制
    顏料(炭黑?有機顏料)的分散?凝集控制
    懸濁狀樣品
    彩色膜
    浮遊選礦物的捕集材吸著的研究


    半導體領域

    查明附著在硅體晶圓的異物的結構
    研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
    CMP懸濁液

    高分子?化學工業領域

    Emulsion(塗料?膠水)的分散?凝集控制、乳膠的表面改質(醫藥 用?工業 用)
    高分子電解質(聚乙烯磺酸鹽?聚碳酸等)功能性的研究、功能性納米粒子
    紙?紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

    醫藥 品?食品工業 領域

    Emulsion(食品?香料?醫療?化妝品)的分散?凝集控制、蛋白質的功能性
    脂質體?囊泡的分散?凝集控制、界面活性剤(膠粒)的功能性


    原理

    粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關法)
    溶液中的粒子會呈現出 依賴于粒徑的布朗運動。因此,當光照射到此粒子上而得到的散射光會出現浮動,小粒子浮動速度快,大粒子浮動速度慢。
    通過光子相關法解析這種浮動,從而求出粒徑或粒度分布。


    ZETA電位測量原理:電氣泳動光散射法(激光多普勒法)
    對溶液中的粒子施加電場,便可觀測到粒子所帶電荷的電氣泳動。因此,可從此電氣泳動速度中求出ZETA電位?電氣泳動移動度。
    電氣泳動光散射法,是用光照射做電氣泳動的粒子,根據所得到的散射光的多普勒轉換量求電氣泳動度。因此,也被稱作激光多普勒法。

    電氣浸透流實測的優點
    所謂電氣浸透流指的是ZETA電位測量中,在cell內引起的溶液的流動的現象。如果cell壁面帶電,溶液中的對離子會集中到cell壁面。
    如果帶有電場,對離子會集中到反向符號的電極側。為了*其流動,在cell*附近區域會出現逆流現象。
    實測粒子表面的電氣泳動移動速度,通過解析電氣浸透流,求出正確的靜止面,當然此靜止面已包括了樣品的吸附或沈降等的cell污跡的影響,然后求出真正的ZETA電位?電氣泳動移動度。 (參考森?岡本公式)


    森?岡本公式
    考慮了電氣浸透流的cell內的泳動速度的解析

    Uobs(z)=AU0(z/b)2+⊿U0(z/b)+(1-A)U0+Up
    z:距離cell中心位置的距離
    Uobs(z):在cell中的位置z中的表面的移動度
    A=1/[(2/3)-(0.420166/k)]
    k=a/b:2a和2b是電氣泳動cell斷面的橫、縱的長度.但是、a>b
    Up:粒子的真正的移動度
    U0:在cell的上下壁面中的平均移動度
    ⊿U0:在cell的上下壁面中的移動度的差


    電氣浸透流的多成分解析的應用
    因ELSZ serie實測了cell內的多個點的表面的電氣泳動移動度,在測量數據內可確認出ZETA電位分布的在現性及判斷噪音峰值。


    平板cell的應用
    平板cell指的是在箱狀的石英cell上面,密集的放置平板樣品,使之成一體化的構造。 根據cell的深度方向的各個級別,實測monitor粒子表面的電氣泳動移動度
    根據得到的的電氣浸透profile解析在固體界面中的電氣浸透流的速度,進而求出平板樣品表面的ZETA電位。

    高濃度類樣品的ZETA電位測量原理
    因受多重散射或吸收等的影響,用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。
    現在,ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且,通過采用了FST法*的高濃度類cell,可測量出高濃度樣品的ZETA電位。


    分子量測量原理:靜的光散射法(光子相關法)
    靜的光散射法作為簡便的測量分子量的手法而被人們熟知。
    測量原理指的是用光照射溶液中分子,根據所得的散射光的值求出分子量。即,利用了大分子所得散射光強,小分子所得散射光弱的現象進行測量。
    實際上,濃度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要實測數點的不同濃度的溶液散射強度,并根據以下公式,橫軸設為濃度,縱軸設為散射強度的倒數, 
    Kc/R(θ)為plot。這被稱作Debye plot。
    濃度為零,外插切片(c=0)的倒數,并求出分子量Mw,根據初期斜面求出第二維里系數A2。
    分子量為大分子時,散射強度出現角度依存性,通過測量不同的散射角度(θ)的散射強度,可知出分子量的測量精度提高,及分子大范圍的指標的慣性半徑。
    角度固定測量時,輸入推算的慣性半徑,并對角度依存測量進行相應的補正,便可提高分子量的測量精度。

    第二維里系數定義
    表示溶媒中分子間的斥力和引力的相互作用,溶媒分子相對應的親和性或結晶化的標準。
    A2是正時,則是親和性較高的高質溶媒,分子間的斥力強,更穩定。
    A2是負時,則是親和性較低的低質溶媒,分子間的引力強,易凝集。
    A2=0時,溶媒被稱為西他溶媒、或溫度為西他溫度,斥力和引力達到平衡狀態,易結晶。


    式樣

    ELSZ-2000Z
    測量原理 雷射都卜勒法(Laser Doppler)
    光源 高功率、高穩定性半導體鐳射
    感光元件 高感度APD
    樣品容器 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器
    溫度范圍 0 ~ 90℃ (具備梯度功能)
    電源規格 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz
    尺寸 380(W) × 600(D) × 210(H)mm
    重量 約22kg


    測量范例

    印表機墨水界達電位測量

    01.jpg

    使用平板樣品容器的測量范例

    02.jpg

    03.jpg

    04.jpg

    微量可拋式樣品容器的測量范例

    05.jpg

    06.jpg

    隱形眼鏡平板電位解析

    07.jpg

    毛髮樣品界達電位解析

    08.jpg


    選配附件

    pH滴定儀系統(ELSZ-PT)? 平板樣品容器
    ?界達電位用中、高濃度樣品容器?界達電位用低介電常數樣品容器
    ?界達電位用微量可拋式樣品容器


    關鍵詞:標準
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