美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀
產(chǎn)品描述：
美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。
Bowman BA-100 Optics 機型采用的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數(shù)倍乃至數(shù)十倍提高X射線激發(fā)強度。
Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應(yīng)嚴格的微區(qū)、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。
優(yōu)秀的測試性能、突出的微區(qū)測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發(fā)、質(zhì)量管控的XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。
穩(wěn)定的X射線管
? 微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小
于100um的測量斑點
? 射線出射點預(yù)置于射線管Be窗正*
? 長壽命的射線管燈絲
? *的預(yù)熱和ISO溫度適應(yīng)程序
多毛細管聚焦光學結(jié)構(gòu)
? 顯著提高X射線信號強度
? 獲得較準直器機型數(shù)倍乃至數(shù)十倍的信號強度
? 小于100um直徑的測量斑點
? 經(jīng)過驗證，接近完美的測量精度
應(yīng)用領(lǐng)域：
常見的鍍層應(yīng)用:
PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半導(dǎo)體行業(yè)
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材
Sn/Cu
珠寶、貴金屬
10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等
