CRAIC 20/30PV全光譜顯微分光光度計
美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計系統(tǒng)，是CRAIC公司的型號，結(jié)合顯微學(xué)和光譜學(xué)的優(yōu)勢，用于微小樣品或樣品的微小區(qū)域的光譜和色度分析，并通過對樣品的反射、透射、熒光及偏振光譜測量，完成微量物證分析。具有科研級高分辨探測器（CCD），半導(dǎo)體制冷探測器，增強穩(wěn)定性；科研級光學(xué)接口，高分辨彩色成像系統(tǒng)。的操作系統(tǒng)，應(yīng)用軟件使用簡單，操作方便。
開創(chuàng)性20/30PVTM系列顯微微分光度計為全光譜顯微譜學(xué)設(shè)立了新的標(biāo)準(zhǔn)。具有前沿科技水平的20/30PVTM系列可在樣品采樣區(qū)域進(jìn)行吸收、透射、反射、熒光以及拉曼等光譜數(shù)據(jù)采集和成像。光譜范圍從紫外到近紅外，具有自動化控制的光譜和圖像分析軟件，擁有自動化、簡便性和長時穩(wěn)定的特性。20/30PVTM系列可應(yīng)用的領(lǐng)域有工業(yè)顯微觀測、材料科學(xué)、法醫(yī)痕跡鑒證、生物樣品分析測試等。
高靈敏度固體陣列探測器使用熱電冷卻，具有較高的信噪比和長時穩(wěn)定性。高分辨數(shù)字成像系統(tǒng)通過CCD收集經(jīng)紫外和近紅外照射后樣品的高分辨彩色圖像。完善而強大的軟件功能不僅控制顯微鏡、光度計和數(shù)字成像，還能提供*的分析處理能力，如薄膜厚度測量等。
