高頻Q表相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀

機(jī)臺(tái)型號(hào)：ZJD-B/ZJD-A/ZJD-C 產(chǎn)品名稱：高頻Q表相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀

一、符合標(biāo)準(zhǔn)：

ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；

GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法；

二、主機(jī)及夾具參數(shù)：

三、配置：

相關(guān)儀器：

ZJD-C型高頻Q表相對(duì)介電常數(shù)測(cè)試儀

QS37介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀 

ZJD-C型介電常數(shù)測(cè)試儀器裝置

一、概述：

      ZJD-C型介電常數(shù)測(cè)試儀器裝置作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)高的160MHz.ZJD-C介電常數(shù)儀采用了多項(xiàng)技術(shù)。
雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

二、主要技術(shù)特性：

S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置：
數(shù)顯式微桿，平板電容器：
極片尺寸： 38mm
極片間距可調(diào)范圍：≥15mm
夾具插頭間距：25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
測(cè)微桿分辨率：0.001mm
測(cè)試極片：材料測(cè)量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm 
*液體杯：測(cè)量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
電感組LKI-1：
分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個(gè)電感組成。

三、配置：