SF630超聲波探傷儀

SF630超聲波探傷儀特點

●*的衛(wèi)星鍵分布，實現單手握持操作。

●根據環(huán)境選擇背景色，亮度可自由設定，強光、弱光環(huán)境，清晰顯示。

●預置50組獨立探傷通道，探傷工藝和標準自動生成，可自由設置各行業(yè)探傷工藝標準，現場探傷無需攜帶試塊，滿足更多需求。

●增益、聲程、閘門、通道的調節(jié)不僅可以導航鍵調節(jié)，更是國內數字鍵直接輸入，探傷更加快捷高效。

●具有獨立雙探傷閘門，可分別設置進波報警，失波報警和雙閘門報警，并可顯示回波-回波距離，適用于完成不同種類的探傷任務。

●雙晶探頭曲線制作功能。

●內置AWS D1.1/D1.5標準

●實用的AVG曲線，自動換算缺陷值。

●對實測DAC曲線，可進行任意一點或多點修正。

●具有直探頭、斜探頭、雙晶探頭及穿透四種探傷工作方式。

●缺陷回波參數（距離、垂直、水平、波幅、dB或當量孔徑值）實時顯示。

●具有自動增益、峰值記憶、回波包絡、門內報警、DAC門、門內展寬等功能 

●VGA接口，無縫對接投影儀。

●SD卡存儲設計，實時動態(tài)記錄檢測波形、數據，無需主機與電腦連接后安裝相關驅動，只需通過U盤便將儀器內存儲波形、數據快速導出。

●超低功耗設計，連續(xù)使用10小時以上。

SF630超聲波探傷儀參數

通道數：       50組通道

工作頻率：     0.5 ~ 20MHz

總增益量：     110dB(分0.1dB/1dB /2dB /6dB 四檔調節(jié))

探測范圍：     0 ~ 10000mm(鋼中縱波)

聲速范圍：     0 ~ 10000m/s

水平線性誤差： ≤ 0.1%

垂直線性誤差： ≤ 3%

動態(tài)范圍：     ≥36dB

分辨力：       ≥ 36dB

靈敏度余量：   ≥ 62dB （深200mmφ2平底孔）

數字抑制：     （0 ~ 80）% ，不影響線性與增益

顯示屏：       5.7"高亮彩色TFT顯示屏(640×480)

電源：         直流15V；交流220V

環(huán)境溫度：     （-20 ~ 50）℃

外型尺寸：     255×160×48（高×寬×厚）

重量：         1.4kg(含電池)