新一代光譜成像橢偏儀

新一代光譜成像橢偏儀新一代的超薄膜、表界面和材料分析測試工具，結合自動消光橢偏技術和傳統顯微鏡技術，橫向（X/Y方向）分辨率超過1微米

新一代成像橢偏儀Nanofilm_EP4具有多種*功能，實現對超薄膜的實時可視化分析測試。你將實時看到樣品微觀尺度上的結構。可以測量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數等參數。也可以對薄膜進行區域化（選區）分析，獲得所選區域的成像分析圖。還可以結合其他分析測試技術對樣品進行聯合分析從而從樣品中獲取更多的信息，聯用技術如原子力顯微鏡（AFM）、石英晶體微天平（QCMD）、反射光譜儀和拉曼光譜儀。成像橢偏儀Nanofilm_EP4是模塊化薄膜分析測試平臺，可根據您具體的應用方向進行差異化配置，從而實現不同的分析測試功能

技術優勢：新一代光譜成像橢偏儀

的橢偏橫向分辨率：可分辨超1微米的微小區域，實現微結構試樣和微小試樣的橢偏分析

新一代成像橢偏技術實現250nm-1700nm連續光譜橢偏分析，提供在寬廣波長范圍內的樣品成像橢偏分析圖片。連續光譜測量技術（波長掃描）允許在波長對樣品進行橢偏分析

實時的橢偏對比度圖像，對樣品表面進行實時視頻圖像分析。樣品的所有微結構、缺陷、污染和動態變化過程都將一覽無余

選區分析技術（）實現區域化的橢偏成像分析測試。平行化分析技術讓您對多個區域進行同步分析

成像橢偏分析集成平臺，實現多種測量技術的聯用。從而從樣品中獲得更多的信息

全畫幅聚焦技術可選，*解決由于橢偏儀斜角入射，物鏡焦平面和樣品表面相交只能線聚焦樣品，因此需要物鏡掃描獲取全畫幅聚焦照片的難題。適用于動態樣品的原位分析測試，如自組裝單分子層的生長和移動、蛋白質相互作用和水面單分子層的漂移等等

光斑切割技術，真正實現超薄透明基底上薄膜的無背底反射橢偏測試

多種功能拓展附件實現成像橢偏技術在不同應用領域內的多種實用功能，如表面等離子共振（SPR）單元，固/液界面分析單元，光導液/液界面分析單元，微流控分析單元，溫度控制單元，電化學分析單元等等

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