38DL PLUS是一款高級超聲測厚儀。這款儀器可使用雙晶探頭對內部腐蝕的部件進行檢測。其性能包含THRU-COAT®（穿透涂層）和回波到回波。還可以使用單晶探頭對薄材料、極厚材料以及多層材料進行非常精確的厚度測量。
38DL PLUS超聲測厚儀：
性能高級、操作簡便、堅固耐用、結果可靠
38DL PLUS測厚儀是一款開創超聲測厚技術新時代的創新型儀器。這款手持式測厚儀可*地適用于幾乎所有超聲測厚應用，而且與所有雙晶和單晶探頭*兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的極其精確的壁厚測量。
38DL PLUS的標準配置帶有很多既強大又易于使用的測量功能，以及一些于某些特殊應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以抵御極其潮濕或多沙塵的嚴酷的環境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明亮的陽光下還是在*的黑暗中都能具有的可視性。測厚儀的鍵區既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手或右手即可輕易訪問所有功能。
主要特性
• 可與雙晶和單晶探頭兼容。
• 寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
• 穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
• 內部氧化層/沉積物軟件選項。
• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
• 使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
• 多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
• 厚度、聲速和渡越時間測量。
• 差分模式和縮減率模式。
• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
• 帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
• 用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
• 設計符合EN15317標準。
這款測厚儀與其他測厚儀有何不同？
38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求，而且可在野外和生產現場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現場多么潮濕、有多大的塵沙、多么寒冷或多么炎熱、多么明亮或多么黑暗，38DL PLUS都可以正常進行檢測工作。如果您需要一款防撞擊、防墜落、堅固結實的測厚儀器，那么，符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。
抵御惡劣環境的能力
• 袖珍型，僅重0.814公斤。
• 堅固耐用，設計符合IP67標準。
• 爆炸性氣氛：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規定的測試，可在國家防火協會規范（NFPA 70）500節I級2分段D組中定義的爆炸性氣氛環境中安全操作。
• 防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規定的測試，每軸6個循環，15 g，11 msec半弦波。
• 防振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。
• 寬泛的工作溫度范圍。
• 帶有支架的橡膠保護套。
• 彩色透反VGA顯示，帶有室內和戶外顏色設置，具有的清晰度。
簡便操作的設計理念
戶外顯示設置，A掃描模式 室內顯示設置，B掃描模式
• 可用右手或左手單手操作的簡潔的鍵區。
• 可直接訪問所有功能的簡便易行的操作界面。
• 內置和外置MicroSD存儲卡。
• USB和RS-232通訊端口。
• 可存儲475000個厚度讀數或20000個波形的字母數字式數據記錄器。
• 可連接計算機或顯示器的VGA輸出。
• 默認或自定義雙晶探頭設置。
• 默認或自定義單晶探頭設置。
• 密碼保護功能可以鎖住儀器的功能。
數據記錄器和PC機接口
38DL PLUS測厚儀帶有一個功能齊全的內置雙向字母數字式數據記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數和波形數據。
• 內置存儲容量為475000個厚度讀數或20000個帶有厚度讀數的波形。
• 32位字符的文件名稱。
• 20位字符的ID# (TML#)編碼。
• 9個文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2-D柵格型、帶自定義點的2-D柵格型、3-D柵格型、3-D自定義型、鍋爐型及手動型。
• 每個ID# (TML)編碼可多存儲4個注釋。
• 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上。
• 內置和外置MicroSD存儲卡。
• 可以在內置和外置MicroSD存儲卡之間拷貝文件。
• 標準USB和RS-232通信。
• 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸。
• 機載統計報告。
• 機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
• GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取MicroSD存儲卡上的數據，還可以在存儲卡上寫入信息。
• 可將內部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到MicroSD存儲卡。
機載DB柵格視圖，帶有3種可編程的顏色。
GageView™
• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、創建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數據。
• 創建數據集和測量總結。
• 編輯所存數據。
• 顯示數據集和測量總結文件，文件包含厚度讀數、測厚儀設置值及探頭設置值。
• 從測厚儀上下載厚度測量總結，或上傳厚度測量總結至測厚儀。
• 將測量總結導出到電子表格及其他程序。
• 收集捕獲的屏幕。
• 打印有關厚度、設置表格、統計及彩色柵格的報告。
• 升級操作軟件。
• 下載和上傳單晶和雙晶探頭設置文件。
• B掃描回顧
標準配置
38DL PLUS數字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz～60 Hz。
標準雙晶探頭套裝盒
• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
• 內置數據記錄器
• GageView接口程序
• 試塊和耦合劑
• USB線纜
• 橡膠保護套，帶有支架和頸掛帶
• 用戶手冊
• 兩年有限擔保
測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、小值/大值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調用應用、溫度補償、平均值/小值模式
技術規格
測量 | |
雙晶探頭測量模式 | 從激勵脈沖后的精確延時到*個回波之間的時間間隔。 |
穿透涂層測量模式 | 利用單個底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測量金屬的實際厚度和涂層厚度。 |
穿透漆層回波到回波測量模式 | 在兩個連續底面回波之間的時間間隔，不計漆層或涂層的厚度。 |
單晶探頭測量模式 | 模式1：激勵脈沖與*個底面回波之間的時間間隔。 模式2：延遲線回波與*個底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 模式3：在激勵脈沖之后，位于*個表面回波后的相鄰底面回波之間的時間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。 |
氧化層模式： | 可選。 |
多層模式： | 可選。 |
厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。 |
材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 標準分辨率：0.01毫米 高分辨率（可選項）：0.001毫米 |
探頭頻率范圍 | 標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
高穿透（可選項）： | 0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
一般規格 | |
工作溫度范圍 | -10°C～50°C |
鍵區 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋。 |
機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準。 |
外型尺寸（寬 x 高 x厚） | 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
重量 | 0.814公斤 |
電源 | AC/DC適配器，24 V；鋰離子電池，23.760 Wh；或4節AA輔助電池。 |
鋰離子電池供電時間 | 工作時間：少12.6小時，一般14小時，多14.7小時。快速充電：2小時到3小時。 |
標準 | 設計符合EN15317標準。 |
顯示 | |
彩色透反VGA顯示 | 液晶顯示，顯示屏尺寸：56.16毫米 X 74.88毫米 |
檢波 | 全波、RF波、正半波、負半波 |
輸入/輸出 | |
USB | 1.0從接口。 |
RS-232 | 有。 |
存儲卡 | 大容量：2 GB外置MicroSD存儲卡。 |
視頻輸出 | VGA輸出標準。 |
內置數據記錄器 | |
數據記錄器 | 38DL PLUS通過標準RS-232串口或USB端口識別、存儲、回放、清除、傳輸厚度讀數、波形圖像和儀器配置信息。 |
容量 | 475000個厚度測量讀數，或20000個帶厚度值的波形。 |
文件名稱、ID編碼及注釋 | 32位字符的文件名，20位字符的字母數字位碼，每個位有四個注釋。 |
文件結構 | 9個標準的或自定義的用于特定應用的文件結構。 |
報告 | 機載報告總結了數據統計、帶有位置信息的小值/大值、小值回顧、文件比較及報警報告。 |
