A1型磁粉探傷試片/靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片/磁粉探傷靈敏度試片
品牌：儒佳
型號(hào)：A1
產(chǎn)品詳情
磁粉探傷靈敏度A型試片
A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規(guī)范
，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的
電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量。A型靈敏試片是磁
A1型磁粉探傷試片/靈敏度標(biāo)準(zhǔn)試片/磁粉探傷靈敏度試片
品牌：儒佳
型號(hào)： A1
產(chǎn)品詳情
磁粉探傷靈敏度A型試片
A型靈敏度試片用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工件，可以正確地選擇磁化規(guī)范
，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的
電流峰值和方向，并對顯示缺陷的磁場強(qiáng)度有所估量。A型靈敏試片是磁粉探傷工作者*的調(diào)試工具。
特點(diǎn)如下：
試片用于磁粉顯示，圖像直觀，使用簡便，對各類零件所有方向的磁場，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其獨(dú)
特的優(yōu)點(diǎn)。
性能規(guī)格：
試片=1（um）適用于高靈敏度探傷，規(guī)格為（11-12）D;
=2（um）適用于中靈敏度探傷，為（8-9）D；=3（um）適用于低靈敏度探傷，規(guī)格為（5-6）D。括號(hào)中分子為
槽深，分母為試片厚度，單位為um(微米)，D為工件直徑。
使用方法：
選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣，不要影響試片背面的
刻槽部位）。
進(jìn)行外加懸場法，對工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，
既是磁化電流）。
上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項(xiàng)：
1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。
2. 試片用后請涂防銹油。
3. 試片有褶皺不平或破裂，會(huì)影響探傷靈敏度，不宜繼續(xù)使用。
