覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達(dá)110dB的動(dòng)態(tài)范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網(wǎng)絡(luò)、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號(hào)快達(dá)7倍之多。
網(wǎng)絡(luò)分析儀的特點(diǎn)是有2個(gè)獨(dú)立的測量通道，可同時(shí)測量和顯示所有4個(gè)S參數(shù)。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐
AGILENT二手8753D/價(jià)格8753D
8753D以其覆蓋3或6GHz頻率范圍的集成化S參數(shù)測試裝置、達(dá)110dB的動(dòng)態(tài)范圍以及頻率掃描和功率掃描，為表征有源或無源網(wǎng)絡(luò)、元器件和子系統(tǒng)的線性和非線性特性提供了圓滿的解決方案。所使用的新型微處理器使測量和數(shù)據(jù)傳遞速率比以往的型號(hào)快達(dá)7倍之多。
網(wǎng)絡(luò)分析儀的特點(diǎn)是有2個(gè)獨(dú)立的測量通道，可同時(shí)測量和顯示所有4個(gè)S參數(shù)。可以選擇用幅度、相位、群延遲、史密斯圓圖、極坐標(biāo)、駐波比或時(shí)域格式來顯示反射和傳輸參數(shù)的任意組合
。便于使用的功能鍵能迅速訪問各個(gè)測量功能。可以利用達(dá)4個(gè)刻度格子在
高分辯率的LCD彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式來觀察測量結(jié)果。為了驅(qū)動(dòng)更大的外部監(jiān)視器，以便于觀察，增加了與VGA兼容的輸出。較好的通用性和性能一個(gè)集成化的合成源提供了達(dá)10mW的輸出功率（用選件011可達(dá)100mW），
1Hz的頻率分辯率和線性頻率，對(duì)數(shù)頻率，列表頻率，CW和功率掃描功能。三個(gè)調(diào)諧接收機(jī)可以在6GHz（帶有選件006頻率擴(kuò)展）處105dB或3GHz（標(biāo)準(zhǔn)）110dB的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)進(jìn)行獨(dú)立的功率測量或同時(shí)比值測量。集成化的測試裝置可以在不使用倍頻器的情況下，測量達(dá)6GHz裝置的傳輸和反射特性
。為了在非同軸系統(tǒng)中進(jìn)行方便而**的測量，特提供了TRL＊/LRM＊1校準(zhǔn)。利用內(nèi)置適配器移去校準(zhǔn)技術(shù)，還能實(shí)現(xiàn)對(duì)非插入式器件的高精度測量。高穩(wěn)定度的頻率基準(zhǔn)（選件1D5）提高了對(duì)高Q器件，如表面聲波（SAW）器件、晶體諧振器或介要特性與技術(shù)指標(biāo)
內(nèi)置S-參數(shù)測試儀
可選時(shí)域和掃描諧波測量
具有頻率偏置功能的混頻器測試
可選步進(jìn)衰減器
描述
本網(wǎng)頁提供的信息僅用于支持目的。
可用于全部正向和反向測量的內(nèi)裝S-參數(shù)測試裝置，使您能通過一次連接全面評(píng)測元件
優(yōu)異的精度，經(jīng)過全面的校準(zhǔn)
可選時(shí)域和掃描諧波測量
用頻率偏置能力作混頻器測試
可選步進(jìn)衰減器，以擴(kuò)展源輸出功率范圍
通過/失敗測試，內(nèi)插誤差校正，測試序列和用戶定義測試頻率，以提高生產(chǎn)能力
2個(gè)獨(dú)立的顯示通道，以同時(shí)測量反射和傳輸特性
質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度。為了提高配置的靈活性，選件011取消了內(nèi)置測試裝置，
