進口鍍層測厚儀
分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業
一、技術參數進口鍍層測厚儀
采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）
- 鍍層元素范圍：鈦Ti～鈾U
包含常見的金Au、鎳Ni、銅Cu、銀Ag、錫Sn、鋅Zn、鉻Cr、鈀Pd等
- 測量方式：由上而下
- 探 測 器：高分辨空氣正比計數器（選配：Si-Pin，SDD)
- X射線裝置：W靶
- 電 壓：50kV（1.2mA）
- 放 大倍數：光學40X,彩色CCD，手動變焦。
- 準 直 器：標配0.3mm，可選配0.5mm或4位多準直器
- 鍍層層數：多至5層（四層鍍層、一層底材）
- 操作平臺：標配：手動/自動（選配）
- 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米
- 測量時間：通常35秒-180秒
- 樣品大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)
- 儀器外觀尺寸：350 x 450 x 310 mm(長x寬x高)
- 測量誤差：通常≤5%，視樣品具體情況而定。
- 可測厚度范圍：通常0.0001um到30um，視樣品組成和鍍層結構而定。
- 同時定量測量8個元素
- 定性鑒定材料達20個元素
- 工 作 電 壓：230V, 50/60Hz，120W
- 重 量：27kg
20、自動測量功能：編程測量，自定測量；進口鍍層測厚儀
修正測量功能：底材修正，已知樣品修正
定性分析功能：光譜表示，光譜比較；
定量分析功能：合金成份分析
數據統計功能：x管理圖，x-R管理圖，直方柱圖。
