Super 8000 真空元素分析光譜儀
專為真空條件下專業的級分析而設計，可分析微量的Na~U元素，高性能、高真空度，利用美國高壓、高性能光管和SDD（硅漂移探測器）配置，再加上多組濾光和準直系統組合，是XRF能散分析的裝備。
Super 8000 真空元素分析光譜儀為真空條件下專業的級分析而設計，可分析微量的Na~U元素，高性能、高真空度，利用美國高壓、高性能光管和SDD（硅漂移探測器）配置，再加上多組濾光和準直系統組合，是XRF能散分析的裝備。
性能優勢:Super 8000 真空元素分析光譜儀
高真空系統，專為真空測試環境而設計
高效超薄窗X光管，全系*
高效X射線光管進一步提升性能
無標樣分析和多參數線性回歸方法，使測量更簡單和結果更準確
*SDD硅漂移探測器，超高分辨率、峰背比、計數率
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，全面提升信噪比
標準配置：
高效超薄Be窗X光管
高性能電制冷SDD探測器
光路增強系統
高內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
多重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
分析精度：0.035%（含量高于96%以上的樣品、21次測試穩定性）
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（130±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：0uA-1000uA
應用領域：
地質礦產、合金分析、ROHS分析、貴金屬分析、鍍層測厚等
