X射線熒光光譜儀 XRF-W8
是一種物理的元素分析方法，具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)，在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了重大的作用。
一、概述
X射線熒光光譜儀 XRF-W8是一種物理的元素分析方法，具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)，在電子、電器、珠寶、玩具、食品、建材、冶金、地礦、塑料、石油、化工、醫(yī)藥等行業(yè)發(fā)揮了重大的作用。
XRF-W8是深圳市策譜科技有限公司自主研發(fā)、生產(chǎn)的新一代X射線熒光光譜儀，采用美國(guó)進(jìn)口SDD探測(cè)器，元素測(cè)試范圍：從鎂Mg--鈾U的所有元素。
X射線熒光光譜儀 XRF-W8主要應(yīng)用：
1、準(zhǔn)確檢測(cè)歐盟RoHS指令限制的有害物質(zhì)ROHS檢測(cè)(鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、六價(jià)鉻Cr、多溴聯(lián)苯、多溴聯(lián)苯醚)，俗稱RoHS檢測(cè)儀；
2、無(wú)鹵指令，鹵素檢測(cè)；
3、玩具等行業(yè)限定的8大重金屬檢測(cè)，鎘(Cb)、鉛(Pb)、汞(Hg)、鉻(Cr)、銻(Sb)、砷(As)、鋇(Ba)、硒(Se)；
4、各種合金成分分析，如：銅合金成份分析、不銹鋼成份分析、鐵合金成份分析等；
5、鍍層厚度分析，單層鍍層和多層鍍層厚度檢測(cè)，多檢測(cè)10層鍍層；
6、全元素分析，鎂Mg-鈾U,等等。
