308PV通用型顯微分光光譜儀
通用型顯微分光光譜儀設計用來給您的光學顯微鏡或探測臺增加*的光譜學、彩色成像、薄膜厚度測量和色度學等功能。擁有前沿的光學、電子學和軟件等優勢，它可以用來更新老舊的顯微分光計。
308PV通用型顯微分光光譜儀可加到任何支持光譜學、色度學和微區膜厚度的顯微鏡鏡體上應用
通用型顯微分光光譜儀設計用來給您的光學顯微鏡或探測臺增加*的光譜學、彩色成像、薄膜厚度測量和色度學等功能。擁有前沿的光學、電子學和軟件等優勢，它可以用來更新老舊的顯微分光計。
通用型顯微分光光譜儀附加到開放的圖像端口（photoport）上讓您能夠收集到纖顯微308PV通用型顯微分光光譜儀樣品的透射比、反光率、偏振甚至是熒光性和發冷光性能。它擁有CRAIC公司產品Lightblades™分光光度計的特點，可測量光譜的范圍是紫外光到近紅外光。您使用通用型顯微分光光譜儀甚至可在不破壞的情況下迅速輕松地獲得次微米級樣品高質量的光譜的圖像。
通用型顯微分光光譜儀是一款理想的多用途儀器，例如用于平板顯示器像素點的色度學、鏡質體煤塊和源巖的反射測定法，或者是光學器件和半導體的薄膜厚度測量。
主要特點
?擁有 Lightblades™ 分光光度計的特點，專為顯微光譜學設計
?用戶可選擇從深紫外光到近紅外光范圍的光譜
?250至1000納米可用光譜范圍
?調整，可變測量區域
?熱電冷卻可用來改善信噪比和保持長時的穩定性
?分辨率高，多可達5百萬像素，還帶有數字彩色成像......
?擁有Lambdafire™分光計、成像控制和分析軟件。 Lambdafire™也包括觸屏控制。
?透射比顯微光譜學
?反射率顯微光譜學
?偏振顯微光譜學
?薄膜厚度測量
?顯微樣品的色度學
?用rIQ™包測量折射率
?自動操作
?對樣品溫度精確地控制
?包括數據分析、光譜數據庫、圖像分析以及更多的專業軟件
?NIST可追蹤顯微分光計標準
?使用及維護都很容易
?出自顯微光譜學專家之手
紫外-可見-近紅外光譜
508 PV™結合了成像系統，設計用來附加到任何帶有圖像端口的顯微鏡上；它可以配置成工作范圍為深紫外光到可見光再到近紅外光如此寬廣的范圍，讓您的系統擁有測量如膜厚度和色度學等數據的新功能。508 PV™帶有 Lightblades™科技的特點，能夠測量微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。
熒光性
The 508 PV™ 甚至可以裝配用來測量微米級樣品的熒光性和冷光光譜學性能。因為508 PV™ 帶有Lightblades™科技的特點，也有測量從紫外光到近紅外光的熒光性和冷光性能，所以它是顯材料科學、生物學、地質學等顯微熒光測定的強大工具。
