即使在多紋理材料上也可以實現的可重復性
配置的反射鏡，采用了一種金剛石車削反光器，位于全光譜LED圓形陣列上方。這種光學系統可以提供高效光信號混合，達到*統一的環形照度，不會產生任何陰影效果。即使在紋理很深的樣品上，也一樣可以獲得良好的重復性，盡可能減少另行額外旋轉測量的需求。
不同現場不同操作人員也可獲得可再現性結果
校準支架作為測量支架有兩個用途，特別適用于有紋理或光澤的平面樣品。校準支架上的旋轉臺，可以穩固的將儀表鎖定到位，進行精確校準和*性測量。無論測量場地和測量人員怎樣變化，測量結果都能*相同。
內置60度光澤計，用于同步光澤控制
可同時測量色彩和60度光澤，并將測量結果與您設定的公差進行對比。確保您能夠在生產過程中快速地檢測出外觀失配。
| 特色 | 描述 | 目的 |
| 測量幾何結構 | 45/0° 幾何結構 | 提供對光滑和粗糙表面準確而可重復的測量結果 |
| SP2000 光譜分析儀 | 專有的雙通道全息光柵和 256 光電二極管線性陣列，用于參考通道和樣本通道雙通道設計 | 提供對樣本照明的連續監測和照明變化的補償。256 光電二極管陣列提高儀器精度 |
| 光源 | 總帶寬 LED 照明 | |
| 60° 光澤計 | 包含內置 60° 光澤計 | 允許同時測量色彩和光澤 |
| 波長分辨率 | 2nm | 反射率數據按 2.5nm 間隔在 400–700nm 測量的 |
| 有效帶寬 | 10nm | 提高測量準確度 |
