三泉中石高精度薄膜測厚儀CHY-U采用機(jī)械式測量方法，適用于塑料薄膜量程范圍內(nèi)各種材料的精確厚度測量。
高精度薄膜測厚儀儀器優(yōu)勢：
（1）采用優(yōu)質(zhì)傳感器，測厚分辨率高達(dá)0.1微米選用優(yōu)質(zhì)傳動元件，確保了試驗(yàn)結(jié)果的穩(wěn)定性與準(zhǔn)確性。
（2）大液晶屏顯示，操作簡便，配備微型打印機(jī)直接打印試驗(yàn)報告。
（3）另外具有電腦通信接口，通過選購軟件實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的*性存儲、查詢、打印；
（4）軟件功能強(qiáng)大，可將成組試驗(yàn)數(shù)據(jù)用柱形圖或列表方式進(jìn)行統(tǒng)計，試結(jié)報告可直接在局域網(wǎng)或廣域網(wǎng)中進(jìn)行傳輸。
主要參數(shù)：
儀器型號：CHY-U
生產(chǎn)單位：濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司
測量范圍:0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 :0.1um
測量速度:10 次/分（可調(diào)）
測量壓力:17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）
接觸面積:50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種
進(jìn)樣步矩:0 ～ 1300 mm(可調(diào))
進(jìn)樣速度 :0 ～ 120 mm/s(可調(diào))
外形尺寸:450mm×340mm×390mm
重量:23kg
應(yīng)用范圍：
（1）用于薄膜、電池隔膜、電容薄膜材料等軟質(zhì)材料厚度精確測量。
（2）對金屬箔片等硬質(zhì)材料厚度精確測量。
（3）接觸式測試原理更有效的檢測出太陽能硅片上每個點(diǎn)的厚度值
（4）通過調(diào)節(jié)測量頭可完整紙張規(guī)定的壓力和面積，完整各種紙張、紙板材料厚度測試。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)
濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司擁有先進(jìn)的檢測技術(shù)、包裝檢測設(shè)備與專業(yè)實(shí)驗(yàn)室，致力于為行業(yè)客戶提供全面、*的包裝質(zhì)量控制解決方案，高精度薄膜測厚儀檢測儀器三泉中石！
