強粉塵拋物面雷達物位計

26G（拋物面天線）高頻雷達物位計

MKRD-707（拋物面天線）雷達物位計是一款采用脈沖原理非接觸式雷達物位計，可廣泛應用于測量固體料位、過程容器、強粉塵、易結晶、結露場合.

工作原理

測量原理 雷達物位計通過天線發射極窄且能量很低的微波脈沖信號，這個脈沖信號以光速在空間傳輸，遇到被測介質發生反射，反射信號被儀表接收，發射脈沖信號與接收脈沖信號的時間間隔與基準面到被測介質表面的距離成正比，通過測量發射與接收的時間間隔，來實現天線至介質表面距離的測量

應      用： 固體料位、過程容器、強粉塵、易結晶、結露場合

頻率范圍： 26GHz

測量范圍： 0-70m

精      度： ±15mm

介質溫度： -40...250℃

過程壓力： -0.1...4.0Mpa

過程連接： 螺紋、法蘭

防爆等級： Exia II CT6；Exd II CT6

防護等級： IP67

信號輸出： 4...20mA/HART（兩線/四線）

RS485/Modbus

1 產品概述

1.1 上佳物位測量解決方案

MLRD607系列雷達物位計是一款采用脈沖原理非接觸式雷達物位計，可廣泛應用于測量液體、漿料及粘稠物等的距離、物位、體積、重量及明渠流量，也可用于測量粉末、顆粒、塊狀等固體介質。即使在多粉塵、有攪拌的應用場合中，也可以穩定測量。

1.2 測量原理

雷達物位計通過天線發射極窄且能量很低的微波脈沖信號，這個脈沖信號以光速在空間傳輸，遇到被測介質發生反射，反射信號被儀表接收，發射脈沖信號與接收脈沖信號的時間間隔與基準面到被測介質表面的距離成正比，通過測量發射與接收的時間間隔，來實現天線至介質表面距離的測量。

圖1 測量原理示意圖

①時間1：產生初始脈沖

②時間2：沿喇叭天線向下行進，速度C（光速）

③時間3：脈沖遇到介質表面發生反射

④時間4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄

⑤脈沖信號從被發射到被接收之間的時間差T，與基準面到介質表面的距離D成正比：D=C×T/2

⑥測量的基準面是： 螺紋底面或法蘭的密封面

⑦ A:量程  B:低位  C:滿位  D:盲

⑧運行時，保證高料位不能進入測量盲區D

1.3 技術優勢

• 采用高達26GHz的發射頻率

• 高頻率與信噪比，是低介電常數介質的上佳選擇

• 波束角小，能量集中，具有更強抗*力，大大提高了測量精度與可靠性

• 測量盲區更小，對于小罐測量也會取得優異效果

• 波長更短，對于小顆粒介質與傾斜的介質表面的物位測量效果更好

• 測量靈敏、刷新速度快、天線尺寸小、安裝簡便、牢固耐用、免維護

• 非接觸式測量，無磨損，無污染，可測量液體，固體介質的物位

• 幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復雜工況的影響

• 采用兩線制回路供電的技術，供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸，節省成本

• 采用*微處理器和*回波處理技術，可適用于各種復雜工況

• 發射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內，對人體環境均無傷害

• 帶有按鍵的顯示屏可方便設置儀表的參數

1.4 可應用的行業：化工與石化、電力、 鋼鐵及冶金、 礦產、造紙及紙漿、水及污水、食品與飲料、 制藥 。

可應用的工況：中間料倉、儲倉、料斗、儲罐、過程罐、攪拌罐、其他。