ENJ2005-B 半導體分立器件測試系統-電子/半導體檢測儀器

ENJ2005-B半導體分立器件測試系統系列

系統概述：

    設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系統采用帶有開爾文感應結構的測試插座，自動補

償由于系統內部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結果準確可靠。

    面板顯示裝置可及時顯示系統的各種工作狀態和測試結果,前面板的功能按鍵方便了系統操作。通過功能按鍵，系統可以脫離主控計算機獨立完成多種工作。

系統提供與機械手、探針臺、電腦的連接口，可以支持各種不同輔助設備的相互連接使用。

系統特征：

● 測試范圍廣（19大類，27分類）

●升級擴展性強，通過選件可提高電壓電流，和增加測試品種范圍。支持電壓電流階梯升級至2000V,1250A

● 采用脈沖測試法，脈沖寬度為美軍標規定的300uS

● 被測器件引腿接觸自動判斷功能，遇到器件接觸不良時系統自動停止測試，確保被測器件不受損壞

● 真正的動態跨導測試。（主流的直流方法測動態跨導，其結果與器件實際值偏差很大）

● 系統故障在線判斷修復能力，便于應急處理排除故障

● 二極管極性自動判別功能，無需人工操作

測試參數：

漏電參數：IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

擊穿參數：BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、 BVGSS、 BVGKO

增益參數：hFE、CTR、gFS、

導通參數：VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1，IGT4、ICON、VGEON、VO(Regulator)、IIN(Regulator)

混合參數：rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation

關斷參數：VGSOFF      

觸發參數：IGT、VGT

保持參數：IH、IH+、IH-

鎖定參數：IL、IL+、IL-

基礎配置：