菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀SurfixProS膜厚計量程：0~10mm 精度：0.1μm，見測頭參數
5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀
Surfix Pro S 專業級測厚儀 膜厚儀 膜厚計
品牌：菲尼克斯 型號：Surfix Pro S 產地:德國
1.強大數據處理功能.分500組存儲1萬個測值,特快反應速度
2.同屏顯示各統計值，配合7種測頭
3.可測鐵基體和有色金屬基體上的鍍層和絕緣涂層
4.SurfixProS膜厚計量程：0~10mm 精度：0.1μm，見測頭參數
5.帶RS-232接口,背景光 .可連小打印機
6.探頭需另選購
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀技術參數
| 型號 | Surfix S膜厚儀 |
| 探頭連接方式 | 插拔式連線探頭 |
| 探頭選擇 | 多種探頭可選 |
| 測量范圍 | 根據探頭而定，zui大可達10mm |
| 測量精度 | ±（1µm+ 0.7%讀數） |
| zui高分辨率 | 0.1µm |
| 統計功能 | 平均值、標準偏差、zui大zui小值（zui高到10000個讀數） |
| 通訊功能 | 可接PC機或打印機（另配紅外適配器） |
| zui小測量面積 | 5X5mm |
| zui小測量厚度 | 鐵磁性基體0.2mm 非鐵磁性基體0.05mm |
| 尺寸、重 量（不含探頭） | 137mmX66mmX23mm（不含探頭）、重225g |
| 符合標準 | DIN、、ASTM、BS |
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚儀可選探頭：
| 探頭型號 | 用途 | 測量范圍 |
| FN1.5 | 磁感應與渦流法兩用 | 0～1500µm |
| FN0.2 | 磁感應與渦流法兩用 | 0～200µm |
| FN3.5 | 磁感應與渦流法兩用 | 0～3500µm |
| F10 | 磁感應法 | 0～10000 |
