OUMDL-III 西安力源近紅外涂層定量儀OUMDL--電子/半導體檢測儀器

OUMDL- III型智能近紅外涂層定量監測系統

近紅外反射式涂層定量測量儀是一種非接觸式在線連續測量基片上涂層定量的儀器。該儀器采用反射式測量方式，近紅外測量技術測量出基片上涂層材料的定量值，傳感器發射出被涂層材料吸收 近紅外光信號和不被涂層材料吸收的近紅外參比光信號，這兩種光信號照射到涂層材料上，與涂層材料作用后，再被傳感器所接收，經數據處理顯示出涂層定量的測量值。

一、儀器主要特點：

   1、無放射性污染，不需要到環保部門備案。

   2、多光束測量技術，提高了儀器測量的準確性。

   3、儀器采用特殊的結構設計及信號處理方式，保證儀器能*穩定的工作。

   4、儀器配有標準的輸出接口。

二、產品主要技術參數

 1）、測量范圍：0.1~30g/m²

2)、測量精度：Q≤±0.1g/ m²

3）、響應時間：τ≤20ms

三、應用范圍

對于基片為紙底材：

膠粘涂層：水性、油性、熱熔膠涂層

擠壓塑料涂層

朔料乳劑涂層

臘涂層。

對于基片為薄膜底材：

水性粘膠涂層

水性乳液涂層

對于基片為金屬底材：

膠粘涂層：水性、油性、熱熔膠涂層

塑料涂層，

臘涂層。