凍力測試儀..簡介：
MHY-05099型凍力測試儀，是用于測量明膠凝凍強度的測量儀器。明膠的凝凍強度，它是反映明膠生產工藝水平、控制明膠生產質量的一項重要指標。正確反映和測試凝凍強度，對于明膠的生產和科研、特別是用于食品級和藥品級明膠的生產和科研，保證臨床應用的安全性，均具有不容忽視的實際指導意義。
1:凍力測試儀../凍力檢測儀/凍力分析儀
型號：MHY-05099
凍力測試儀..簡介：
MHY-05099型凍力測試儀，是用于測量明膠凝凍強度的測量儀器。明膠的凝凍強度，它是反映明膠生產工藝水平、控制明膠生產質量的一項重要指標。正確反映和測試凝凍強度，對于明膠的生產和科研、特別是用于食品級和藥品級明膠的生產和科研，保證臨床應用的安全性，均具有不容忽視的實際指導意義。
系統組成：◎凍力儀主機1臺 ◎精密恒溫監控冷水箱1臺 ◎高效制冷機1臺
MHY-05099機型，滿足專業人員繁多和復雜的測量要求的智能化專業機型。
適用標準：
◆《中華人民共和國藥典》2010年版
◆國家標準《食品添加劑明膠》GB6783
◆國家標準《藥用明膠硬膠囊》GB13731
◆行業標準《藥用明膠》QB2354
◆行業標準《工業明膠》QB/T1995
◆行業標準《骨膠》QB/T1997
◆行業標準《照相明膠》QB1997
儀器系統的構成： 共3件套組成；
①凍力儀主機：測定、采集、處理、顯示和打印明膠的凝凍強度數據。
②HW-3A精密恒溫監控冷水箱：給待測明膠提供一個10攝氏度±0.1度實時監控的保溫環境，防止系統出現過熱、過冷、過電流、過電壓、傳感器失靈等各種故障的發生
③高效制冷機：給恒溫水箱水浴高效降溫。
系統結構和特點：
◎ 滿足專業人員繁多和復雜的測量要求的智能化專業機型。
◎ 采用高清晰度LCD液晶顯示屏，用戶可根據屏幕提示享受智能化操作，每一個操作過程均給出漢字提示和量化指標。
◎ 強大的數據處理能力，能自動為您提交被測膠樣的大值、小值、平均值、終值或峰值等參數。
◎ 提供單步、保持、循環、自動4種采樣測量模式，讓您操作更加得心應手。
◎ 自動測量模式，能幫助您更快捷、更準確、更逼近實際的獲得凝凍強度值。
◎ 儀器提供任意采樣深度預置，方便用戶提取膠樣的各層面數據。
◎ 提供5種采樣速度; 0.1mm/s 0.2mm/s 0.5mm/s 1mm/s 2mm/s。選擇高速測量，不產生探頭壓入膠面深度誤差。
◎ 提供4鐘采樣模式；單步測量方式、循環測量方式、保持測量方式、自動測量模式。
◎ 采樣深度可任意預置（1mm?---60mm）
◎ 儀器提供2種采樣結果，配合采樣速度和采樣模式的不同測試組合，為用戶提交終值或峰值兩種
◎ 新型前換紙熱敏寬行打印機，為您準確記錄測量結果。
◎ 專業級高精度壓力傳感器。
◎ 高精密機械傳動并配置4級防震設計。
◎ 用戶可自行檢定儀器本身的測量精確度。（用標準砝碼）
◎ 用戶可自行校正深度行程誤差。（用標準千分表）
◎ 自動修正非線性誤差，自動故障診斷報警，自動超量程保護，自動誤差校正提示。
主要技術指標：
▓自動測量模式，能幫助您更快捷、更準確、更逼近實際的獲得凝凍強度值
▓滿足2010版《藥典》對測量時限的要求
▓儀器自帶打印功能，自動記錄、保存和打印測量結果
▓專業級高精度力學傳感器
▓智能液晶顯示，菜單式操作，實時統計測量次數、大值、小值
▓用戶可自行檢定儀器本身的測量精確度。（用標準砝碼）
▓用戶可自行檢定壓膠行進精度。（用標準千分表）
▓儀器自動修正非線性誤差，自動故障診斷報警，自動超量程保護，自動誤差校正提示
▓高速測量時機內電腦動態監控探頭壓入膠面深度誤差
▓5種采樣速度;：0.1mm/s 0.2mm/s 0.5mm/s 1mm/s 2mm/s
▓4種采樣模式：單步、循環、保持、自動
▓2種采樣結果：終值或峰值
▓測量探頭圓柱體直徑： 12.700±0.010mm
▓測試范圍： 5-1000g
▓測試精度： ±0.3%
▓分辨率： 1g
▓重復測量誤差：±1g
▓測試行程：1-75mm
▓行程誤差：≤±0.1mm
▓高速測量行程誤差：≤±0.1mm
▓測量值： 以Bioom g為單位
▓測量圓柱直徑：12.700±0.010mm
▓凍力瓶： 容量=150ml 內經=59mm 高度=85mm
▓控溫范圍：5?C -30?C
▓溫控精度：10?C±0.1?C
▓制冷時間：30?C→10?C < 40min
▓制冷工質：R406a
▓凍力儀型號：MHY-05099
▓外型尺寸：長*寬*高（mm） 285*270*500
重量：16.5Kg
▓精密恒溫監控冷水箱型號：HW-3A（優質加厚不銹鋼內膽，使用壽命長）
外型尺寸：長*寬*高（mm） 400*430*380
重量：22.5Kg
▓制冷機型-3 （優質加厚不銹鋼蒸發器，使用壽命長）
外型尺寸：長*寬*高（mm） 540*400*310
重量：28.5Kg
3:高阻型體電阻率測試儀/超高阻微電流測試儀
型號：MHY-05097
概述 MHY-05097型超高阻微電流測試儀（高阻型體電阻率表面電阻率測試儀）是運用環形三電極法原理測量固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測量裝置，也可作為超高阻計或微電流測試儀使用。該儀器設計符合國家標準GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》。
儀器成套組成：由主機、標配的環形三電極、連接線纜等部分組成。
主機主要由高壓電源、微電流檢測計、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度校正功能；手動/自動轉換量程；測試數據由雙數字表頭顯示，左窗口顯示測試結果體電阻率，右窗口顯示測試條件：測試電壓、測試電流以及設定修正系數。
電極選配：儀器配備標準環形三電極，客戶也可以根據需要參照國標，自備電極以擴大應用場合。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于工礦企業，科研院所對于防靜電產品如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值的檢驗以及絕緣材料和電子電器產品的絕緣電阻測量。也可用于微弱電流測量如光電效應和器件暗電流測量。
三、基本技術參數1. 常規測量范圍、分辨率（量程可向上或下擴展1～2個數量級）
電 阻： 1.0×103 ～ 2.0×1016 Ω, 分辨率0.1×103 ～ 0.1×1016 Ω
電 阻 率： 1.0×103 ～ 2.0×1016 Ω-m 分辨率0.1×103 ～ 0.1×1016 Ω-m
方塊電阻： 1.0×104 ～ 2.0×1016 Ω/□ 分辨率1.0×103 ～ 0.1×1016 Ω/□
2 工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W
3 外形尺寸：W×H×L=32cm×13cm×32cm
凈 重：≤3.5kg
4 環形三電極
它是由三個獨立的電極組成:
4.1中心為圓柱體,直徑為50mm,高度是40mm。
4.2圓柱體外為一圓環,圓環內徑為60mm,外徑為80mm, 高是40mm。
4.3底為一平板, 直徑為100mm的圓板，厚度一般為10mm
4:四探針電阻率測試儀／四探針電阻率/方阻測定儀
型號：MHY-05094
概述
MHY-05094型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術參數
3.1 測量范圍
電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑：DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數字電壓表：
(1)量程： 20.00mV～2000mV
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.4 數控恒流源
(1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA，1A
(2)誤差：±0.1%讀數±2 字
3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
3.7.外形尺寸：
主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高）
凈 重：≤2.5kg
5:多功能數字式四探針測試儀/電阻率/方阻測試儀
型號：MHY-05093
概述
MHY-05093型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動轉換量程；測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能，大分類10類。
探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配DP-A或DP-B或DP-C或DP-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選DP-K型測試臺，也可選配DP-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配DP-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術參數
1. 測量范圍、分辨率（括號內為可向下拓展1個數量級）
電 阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω）
電 阻 率：10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103 Ω-cm
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm）
方塊電阻：50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103 Ω/□
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103 Ω/□）
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
直 徑： DP-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
DP-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限.
長(高)度： 測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3. 量程劃分及誤差等級
滿度顯示 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000 200.0 20.00 2.000
常規量程 kΩ-cm/□ kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ ---
大拓展量程 --- kΩ-cm/□ Ω-cm/□ mΩ-cm/□ mΩ-cm/□
基本誤差 ±2%FSB
±4LSB ±1.5%FSB
±4LSB ±0.5%FSB±2LSB ±0.5%FSB
±4LSB ±1.0%FSB
±4LSB
4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W
5.外形尺寸： 245mm（長）×220 mm（寬）×95mm（高）
凈 重：≤1.5～2.0kg
